項(xiàng)目名稱：北京懷柔實(shí)驗(yàn)室2023年第四批科研設(shè)備采購項(xiàng)目

項(xiàng)目編號：1495-234thhrlab04/03

【資料圖】

招標(biāo)范圍：產(chǎn)品名稱：臺階儀設(shè)備 數(shù)量：2臺 簡要技術(shù)規(guī)格：臺階儀是一種半導(dǎo)體芯片過程檢測設(shè)備，具體規(guī)格如下： 1)臺階儀1臺，用于金屬前道工藝量測硅片表面介質(zhì)膜干法刻蝕的臺階，重復(fù)性≤0.45埃； 2)臺階儀1臺，用于金屬后道工藝量測硅片表面介質(zhì)膜濕法腐蝕的臺階，重復(fù)性≤0.45埃。

招標(biāo)機(jī)構(gòu)：天恒招標(biāo)有限公司

招標(biāo)人：北京懷柔實(shí)驗(yàn)室

開標(biāo)時(shí)間：2023-06-30 09:30

公示時(shí)間：2023-07-03 17:14 - 2023-07-06 23:59

中標(biāo)結(jié)果公告時(shí)間：2023-07-07 14:24

中標(biāo)人：瑞德儀實(shí)業(yè)有限公司

制造商：Bruker Nano Inc.

制造商國家或地區(qū)：馬來西亞

關(guān)鍵詞：